5月16日上午苏州工业园区纳米城二期正式投用，建筑总面积约14万平米，胜科纳米(苏州)有限 公司携手另外8家纳米技术企业集中入驻开业，为苏州工业园区建区20周年献礼。总裁李晓旻先生 与苏州其他员工共同见证了这一历史时刻，接受苏州工业园区及纳米城相关领导的亲切接见及热 烈祝贺，并期望我们充分发挥胜科纳米在新加坡积累多年的先进分析技术及经验，为国内诸多的 高科技研发和制造企业服务。








李晓旻总裁（左二）接受园区领导祝贺

胜科纳米（苏州）有限公司于5月15日参加2014苏州电路板展。众多的中国本土PCB制造商和PCB 组装企业对胜科纳米提供的表面材料分析服务表示出浓厚的兴趣，其中包括金属镀层及表面氧化 物测量、PCB截面分析、材料表面粗糙度及表面污染物分析等。有意和胜科纳米建立长期的就失效 分析和材料分析方面的合作。

2014年4月26至28日，2014年首届全国纳米科技前沿论坛暨中国材料研究学会纳米材料与器件分 会成立大会在苏州阳澄湖如期召开。 本次大会的专题报告主要集中在纳米材料制造工艺、应用前景、基 础理论，以及配套的实验方法、表征手段、遇到的挑战等。 胜科纳米（苏州）受邀在2014年首届全国纳米 科技前沿论坛上作专题报告。 公司总裁特别代表郑海鹏先生做了专题报告与介绍，并在为期三天的论坛期间 与中国大陆各大高校和研究所的学术领军专家、学者进行卓有成效的沟通与交流。 胜科纳米（苏州）在材料 结构表征及成分分析、制样等方面的超群能力引起学术界高度关注，荣幸的受到了中科院化学所江雷院士、韩 布兴院士，清华大学副校长薛其坤院士、李亚栋院士等众多著名学者的肯定，并希望在以后的科研工作中彼此 加强合作与交流，充分发挥胜科纳米在材料表征及失效分析领域的技术实力，为中国大陆科技成果产业化进程 作出贡献。


大会开幕


胜科纳米（苏州）有限公司李晓旻总裁的特别代表郑海鹏先生作主题报告


中科院沈阳分院院长包信和院士报告精彩瞬间


清华大学副校长薛其坤院士报告的精彩瞬间

2014年4月11日，胜科纳米技术代表参加2014年MEMS微言大义产业论坛，与会期间充分了解MEMS 发展趋势，并与诸多学者进行技术交流，并表示在MEMS结构表征方面急切希望与我司展开深入合作。

2014 年 2月25日下午，胜科纳米公司总裁李晓旻先生率公司资深总监华佑南博士、总裁助理陈以 欣博士、苏州公司经理李晓东先生、业务主管徐艺文和郑海鹏，以及其他技术人员等到中科院宁波材料 所访问和交流。宁波材料所公共技术服务中心主任李勇等领导和技术人员热情接待了李晓旻总裁一行。 座谈会上，华佑南博士、陈以欣博士和业务主管徐艺文分别介绍了胜科纳米科技公司的发展概况和目前 配备的高端分析仪器，以及颇具特色的高端失效分析测试服务，并表达了与宁波材料所测试中心在材料分析 方面长期合作的愿望。李勇主任介绍了宁波材料所测试中心的发展概况，以及目前具有的测试服务项目及范围。 双方就今后在材料失效分析技术领域可能的合作进行了讨论，希望今后加强沟通与交流，提高服务能力。 座谈会后，李晓旻总裁一行参观了宁波材料所测试中心实验室。


公司总裁李晓旻先生一行（从左：郑海鹏先生、华佑南博士、李晓旻总裁、陈以欣博士、李晓东经理和徐艺文女士） 正在和中科院宁波材料所公共技术服务中心李勇主任等领导和技术人员座谈和业务交流。 胜科纳米是一家提供专业的失效分析和材料分析服务的独立第三方实验室，在新加坡科技 园和苏州工业园建立了高科技实验室和配备全套高端材料分析及失效分析设备，可提供涵 盖新材料、新能源、半导体及化工等产业的一站式（每周7天24小时）分析服务及全面质量解决方案。

2013年11月13至15日，第五届国际航空领域无损检测学术讨论会在新加坡顺利召开。胜科纳米作为会议赞助商之一，向与会者重点展示了公司在材料表征领域的丰富经验。在展会现场，众多研究工作者和工业界代表对胜科纳米的分析能力和服务表示强烈关注，同时也表示出今后在航空无损检测领域合作的可能性。

胜科纳米于2013年9月24至27日参加了CHINano 2013会议，并与中国本地纳米科学家、技术专家、搞高科技创业家及政府扶持纳米科技的相关部门建立了紧密的联系。

2013年7月15至19日，胜科纳米出席了在苏州举办的第二十届国际集成电路物理与失效分析会议（简称IPFA）。作为亚洲顶尖的失效分析实验室，胜科纳米于会议期间全面展示了在失效分析方面的分析服务。作为一站式服务提供方，胜科纳米在本次IPFA会议上发表了表面材料分析、EBSD以及TEM领域的最新成果（详细内容见以下链接）

Application of Transition EBSD in Aluminium Metal Layer and GaAs/As Epitaxial Layers
by Dr. Shen YQ

Visualization of Crystalline Defects in Silicon, a Cause of Electrical Leakage in Semiconductor Devices
by Dr. Chow SY

Composition Distribution Studies of Sn/Ag/Cu Solder Materials Using TOF-SIMS, XPS and EDX
by Dr. Lee HS
Published on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2013 20th IEEE International Symposium on the Digital Object Identifier: 10.1109/IPFA.2013.6599145, Publication Year: 2013

2013年5月9日，胜科纳米的市场经理冯洋在会议期间就TOF-SIMS和XPS在PCB分层失效中的应用作了技术分享。

胜科纳米于5月8至10日参加2013苏州电路板展。胜科纳米众多中国本土PCB制造商和PCB组装企业对胜科纳米提供的表面材料分析服务表示出浓厚的兴趣，其中包括金属镀层及表面氧化物测量、PCB截面分析、材料表面粗糙度及表面污染物分析等。

带着多年在东南亚地区积累的丰富分析经验和知名度，胜科纳米已经开始瞄准快速发展的中国半导体市场。作为2013年SEMICON China参展商，胜科纳米与中国众多生产企业、技术团队以及政府科技部门的决策者进行了讨论并广泛地交换了意见。我们期待胜科纳米与中国企业在不久的将来有更多的合作。

2013年3月8日下午，由胜科纳米（苏州）有限公司主办的《失效和材料分析技术研讨会》在独墅湖世尊酒店成功召开。在苏州工业园区政府的大力支持下，来自半导体、LED、硬盘、显示面板、纳米材料等企业代表以及科研院校代表一百余人参加了会议。

胜科纳米是世界顶尖的独立第三方实验室，公司的材料分析和失效分析实验室配备全套的高端分析仪器搭建开放式的专业分析平台，拥有的世界一流实验设备和高素质的分析团队。公司的专家级分析人员均拥有10多年海外业界经历，对于工艺流程和分析试验设计能力都具有深入了解，为企业的研发、生产、品管部门提供最专业最快捷的分析服务。胜科纳米自2012年进入园区以来，已为园区的高科技企业提供优质的分析服务，成功地帮助企业解决多个困扰已久的产品失效、工艺异常等问题，为企业提高产品良率、节约生产成本提供了强大的技术支持。

会上，胜科纳米电镜分析组技术主管陈以欣博士和材料分析组高级分析员沈轶强博士分别做了《TEM/FIB/SEM/EDX/EBSD在失效分析中的应用》 、《SIMS/XPS/FTIR/AFM等分析手段在材料和表面污染物分析中的应用》等技术报告，报告内容精彩而深刻，与参会的科研技术人员分享了在失效分析和材料分析领域的前沿知识和宝贵技术经验。

会议期间，胜科纳米的分析专家就企业工程师遇到的失效分析的疑点和盲区进行了深入地讲解和剖析，有助于企业打破理论与实际脱钩的窘境、达到失效现象与失效机理直接挂钩、提高产品良率和可靠性。同时，与会代表也针对器件失效和材料表征的热点问题进行了广泛的讨论和学习交流。此次研讨会的召开，在一定程度上满足了相关企业对新产品研发和新工艺应用的需求，同时也对提高企业失效分析技术的认识、质量控制与可靠性水平有重要意义。

新加坡-江苏合作理事会第六次会议于2012年9月20日在泰州召开，公司领导李晓旻总经理和傅超总监全程参与了这次会议。会议期间，李总经理为新苏双方领导介绍了胜科纳米的发展状况和愿景，胜科纳米全球领先的科技技术得到了领导们的好评并期许能在中国的业务大规模发展。

李总与新加坡部长王瑞杰


李总与苏州市长周乃翔

胜科纳米苏州公司与2012年8月成立，位于苏州工业园区中新生态科技城。优美的办公环境，与美丽的青剑湖和阳澄湖比邻为伴。公司为客户提供了世界一流的分析平台。

李总经理向新加坡李显龙总理介绍公司业务

李总经理向新加坡贸工部部长林勋强介绍公司业务

新加坡科技局20周年庆酒会日前召开，胜科纳米作为新加坡扶持的高科技企业成功代表参加了20周年的一系列年庆活动，李总经理并在庆祝活动影带中留言。

祝新加坡科技局20岁生日快乐！

胜科纳米李晓旻总经理（左）和新加坡科技局主席林泉宝（右）

胜科纳米材料分析中心发表了最新的图像传感器分析论文。图像传感器现大量使用在移动设备里，传感器的像素增加可以通过缩小每个像素的大小，然而生产过程中的微量污染物降低了高端传感器的良品率，本论文分析3百万像素的传感器表面污染物，并发表在EPTC 2011年的会议上。

新加坡FIB/TEM用户会议于10月20日在莱佛士会议中心召开。今年胜科纳米和美商FEI公司一道主办这次会议。今年的会议聚集了来自于材料，半导体，电子，生物，硬盘等领域的专业人士参加。这次的会议显示了日益活跃的电镜学术用户群体。

在一年一度的新加坡最佳明星企业评选中，胜科纳米以优异的成绩位居新加坡前15名，这是对胜科纳米在高科技服务领域的一次重要肯定，我们会全力发展并做到亚洲最好世界一流的分析中心。新加坡最佳明星企业评选是由新加坡报业控股下的“商业时报”和华侨银行联合主办的优秀企业评选活动。

胜科纳米材料分析中心于南洋理工大学共同参与了最新的石墨烯材料分析。石墨烯是由单一碳原子形成的薄膜材料，石墨烯具有非常高的研究。本研究通过结合飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS和拉曼光谱仪Raman Microscope成功分析出不同石墨烯的成分，论文并发表在Journal of Materials Chemistry Issue 22, 2011。