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SAT/C-SAM
- 分类:测试服务
- 发布时间:2022-05-18 14:51:02
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概要:
详情
1、项目介绍:
C-模式扫描声学显微镜,通过超声波穿透塑料封装和陶瓷封装体,用于探测样品内部分层delaminationg或者空穴void等缺陷。不同频率的探头有不同的穿透深度,通过控制超声波的聚焦深度可以扫描不同界面,同时配合反射式C-SAM和穿透式Through Scan两种工作模式。该设备具有10MHz-230 MHz多种尺寸,扫描模式有A-Scan、B- Scan、C -Scan、Q-BAM、T- Scan,配套的灰度识别和像素点计算软件为DIA软件。
2、应有优势:
无损分析,可快速检测内部分层、空洞、裂纹等缺陷。
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