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TDR时域反射仪
- 分类：测试服务
- 发布时间：2022-05-18 15:01:42
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概要:
详情
1、项目介绍：
TDR时域反射仪是芯片封装的无损检测技术，通过监听反射回来的高频信号波形和耗时确定反射信号的距离，可以定位芯片的开路和短路位置：基板的铜线、键合线、焊球的开路和短路，可配合X-Ray、CT、SAT等无损方法。客户可提供标准样品，通过比对好品、失效品、基板获得分析结果
2、应用优势：
无损分析，配合标准样品可更准确定位BGA、SIP、SoC、QPN、TO等封装中开路位置。
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sales-cn@wintech-nano.com