测试服务
全部分类
-
开封Decap
-
去层Delayer
-
高分辨率显微镜X-Ray
-
时域反射仪TDR
-
增强型热成像Thermal
-
双束聚焦离子束FIB
-
等离子聚焦离子束PFIB
-
微光显微镜EMMI
-
激光故障定位法OBIRCH
-
纳米探针Nano Probe
-
EBIC/EBAC
-
上机观察SEM
-
透射电子显微镜TEM
-
能量色散X射线光谱仪EDX
-
原力电子显微镜AFM
-
芯片线路修改/FIB CKT 线路修补 (低阶)、(高阶)
-
飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
-
磁质谱仪D-SIMS
-
俄歇电子能谱AES
-
X射线光电子能谱(XPS)
-
傅里叶变换红外光谱仪FTIR
-
原子力显微镜AFM
-
静电ESD
-
打线WireBond
-
扩展电阻测试SRP
-
温度循环实验TC
-
温度冲击试验TS
-
高温寿命试验HTOL
-
高加速寿命测试HAST
-
器件DPA
-
植球Balling
俄歇电子能谱AES
- 分类:测试服务
- 发布时间:2022-05-18 16:51:31
- 访问量:0
概要:
详情
1、项目介绍:
俄歇电子能谱仪利用荷能电子束激发样品表面原子产生的俄歇电子,来对样品表面元素进行鉴别与定量分析。同 时,在检测原子序数较小的元素时,该仪器具有高灵敏度,且有极佳的空间分辨率,常用于样品表面的微区分 析。借助于离子束的剥蚀,俄歇电子能谱仪还能实现量化的深度剖析,并广泛应用于薄膜各层及界面的分析。
2、应用优势:
(1)基体效应小,易于定量;
(2)成像分辨率高,~10nm
3、局限:
(1)化学态信息有限
(2)分析绝缘体较困难
(3)无法检测H及He
(4)样品须满足超高真空条件
扫二维码用手机看