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HAST高加速寿命测试

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HAST高加速寿命测试

  • 分类:测试服务
  • 发布时间:2022-05-18 17:12:44
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概要:
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  1、项目介绍

 

  高加速的温度和湿度压力测试(HAST)是一个高度加速,以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。HAST也称为压力测试(PCT)或不饱和压力试验(USPCT)。其目的是评估测试样本,通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。胜科纳米主要进行UBHAST(非偏压高速寿命试验)及BHAST(高加速温湿度及偏压测试)。

实验目的:评估IC产品在偏压,高温,高湿,高气压条件下对湿度的抵抗能力,加速其失效过程。

测试条件:130℃,85%RH,1.1VCC,Static bias,230Kpa    96H

                110℃,85%RH,1.1VCC,Static bias,122Kpa    264H

失效机制:分层 、电离腐蚀、电性能开/短路、封装密封性

失效原因:

(1)因为焊盘被腐蚀造成线路开路

(2)因为吸潮或离子迁移造成短路或漏电

(3)PN结电阻增加,造成的电流漂移

改善措施:

(1)提高EMC和PCB之间的粘结力

(2)选用低吸湿性的EMC,高粘结力的EMC

参考标准:JESD22-A110/A118)

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