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电性分析
- 分类:解决方案
- 发布时间:2022-05-18 17:47:32
- 访问量:0
概要:
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为了满足各种半导体器件的需要,必需对材料的电学参数进行测量,这些参数一般为电 阻率、载流子浓度、导电类型、迁移率、寿命及载流子浓度分布等。
一、ESD/EOS 静电测试
ESD测试用于验证产品是否能够承受静电放电(ESD)事件和其他威胁,确保集成电路芯片和其他电子产品符合国家、国际和行业ESD和电磁兼容性(EMC)测试标准,可以提供全套的HBM/MM/Latch-Up/CDM/TLP测试。
二、电学测试和故障分析能力和应用 (EFA)
封装级和器件级的失效定位分析 (Package/device-level Fault Isolation)
PCB 失效分析 Failure Analysis
电测量分析 Electrical Testing
ESD/EOS Testing lab
2D/3DX-射线分析NDT 2D/3D X-ray CT
射频器件,LED激光器,光电器件,CMOS器件等各类半导体器件
三、主要设备
Nanoprobe
EMMI / OBIRCH
Thermal
2D XRAY
3D CT -XRAY
SAT (SAM)
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