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邀请函 | 第六届纳博会分析测试应用研讨会,本期聚焦主题是这个!
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邀请函 | 第六届纳博会分析测试应用研讨会,本期聚焦主题是这个!

  • 分类:胜科新闻
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2024-11-04
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【概要描述】10月24日,胜科纳米(苏州)股份有限公司联合中国半导体行业协会MEMS分会、苏州纳米科技发展有限公司举办“第六届纳博会分析测试应用研讨会”,针对国内半导体与新工艺分析检测需求,以国际领先的分析技术为基础,聚焦纳米探针NanoProbing 技术应用和透射电镜TEM表征技术,进行技术和案例的分享与探讨。诚邀您莅临参会交流!

邀请函 | 第六届纳博会分析测试应用研讨会,本期聚焦主题是这个!

【概要描述】10月24日,胜科纳米(苏州)股份有限公司联合中国半导体行业协会MEMS分会、苏州纳米科技发展有限公司举办“第六届纳博会分析测试应用研讨会”,针对国内半导体与新工艺分析检测需求,以国际领先的分析技术为基础,聚焦纳米探针NanoProbing 技术应用和透射电镜TEM表征技术,进行技术和案例的分享与探讨。诚邀您莅临参会交流!

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CHInano 2024

第六届纳博会分析测试应用研讨会

 

展会:2024年10月23日-25日

苏州国际博览中心B1馆·胜科展位T33

研讨会:2024年10月24日

苏州国际博览中心B1馆会议室1

 

 

INVITATION

邀请函

 

     为推动纳米技术产业发展、加强纳米技术应用推广、深化国际合作,在科技部和中国科学院指导下,第十四届中国国际纳米技术博览会(简称“纳博会”)将于2024年10月23日-25日在苏州工业园区国际博览中心召开。

      期间10月24日,胜科纳米(苏州)股份有限公司联合中国半导体行业协会MEMS分会、苏州纳米科技发展有限公司举办“第六届纳博会分析测试应用研讨会”,针对国内半导体与新工艺分析检测需求,以国际领先的分析技术为基础,聚焦纳米探针NanoProbing 技术应用和透射电镜TEM表征技术,进行技术和案例的分享与探讨。诚邀您莅临参会交流!

 

 

 

会议议程

Agenda

8:30-9:00

来宾签到入场

9:00-9:10

主持人开场

邵宏伟  公共关系副总裁

胜科纳米(苏州)股份有限公司 

9:10-9:30

半导体行业周期和周期内的赛道轮回

李晓旻 董事长 

胜科纳米(苏州)股份有限公司

9:30-10:00

半导体材料与器件的三维原子结构分析方法

于荣   教授、博导、北京电子显微镜中心主任 

清华大学

10:00-10:30

纳米探针在半导体失效分析中的应用

唐涌耀   EFA商务拓展及应用工程经理 

赛默飞世尔科技

10:30-11:00

纳米探针在芯片失效分析中的实战应用

蔡国庆   研发部技术总监 

胜科纳米(苏州)股份有限公司

11:00-11:30

表面分析,见微知着—XPS与AES

冯林   博士 

爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

11:30-12:00

多尺度实验技术在电子产品失效分析中的应用

顾凯臣   高级工程师

毅博科技咨询公司

12:00-13:30 午餐

 

13:30-13:40

主持人提醒入场

13:40-14:15

半导体第三方分析检测服务机构评价体系构建之思考

乔明胜  研发部前沿技术总监

胜科纳米(苏州)股份有限公司

14:15-14:50

日立纳米尺度器件表征分析系统简介

備藤七生  部长代理

日立

14:50-15:25

集成电路研发与制造 —来自球差透射电镜的深度观察

曹潇潇   高级业务拓展经理

赛默飞世尔科技

15:25-16:00

蔡司显微镜在半导体及先进封装失效分析的解决方案

曹春杰   X射线显微镜 技术专家

蔡司

16:00-16:30

集合出发胜科纳米总部

17:00-18:00

胜科纳米总部参观

18:00-20:00

晚宴

 

扫码报名参会

会务联系:

郑海鹏13914033396   高女士18913123126

 

胜科展位

Booth T33

胜科展位号 T33

 

诚邀莅临展台交流!

 

 

主办单位

中国半导体行业协会MEMS分会

苏州纳米科技发展有限公司

胜科纳米(苏州)股份有限公司

-

支持单位

赛默飞世尔科技

蔡司

日立    

爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

 

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