展会邀请 | 胜科纳米邀您共赴 ICCAD 2024，技术交流不容错过！

分类：胜科新闻
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来源：
发布时间：2024-12-06
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【概要描述】12月11日至12日，即将迎来一场集成电路行业的重磅盛事——“上海集成电路2024年度产业发展论坛暨第三十届集成电路设计业展览会”（ICCAD-Expo 2024）。届时，近万名行业精英齐聚一堂，权威专家与行业领袖将在此分享最前沿的技术动态，深入探讨行业趋势。

胜科纳米受邀将参与本次盛会，并在“先进封装与测试（Ⅱ）”论坛上发表技术演讲。在此，胜科纳米诚邀您亲临展位现场，与我们共同探讨和交流行业新动态和胜科新技术。

展会邀请 | 胜科纳米邀您共赴 ICCAD 2024，技术交流不容错过！

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ICCAD-Expo

12月11日至12日，即将迎来一场集成电路行业的重磅盛事——“上海集成电路2024年度产业发展论坛暨第三十届集成电路设计业展览会”（ICCAD-Expo 2024）。届时，近万名行业精英齐聚一堂，权威专家与行业领袖将在此分享最前沿的技术动态，深入探讨行业趋势。

胜科纳米受邀将参与本次盛会，并在“先进封装与测试（Ⅱ）”论坛上发表技术演讲。在此，胜科纳米诚邀您亲临展位现场，与我们共同探讨和交流行业新动态和胜科新技术。

专家见解，硕果分享

蔡国庆胜科技术总监

专题论坛六----先进封装与测试（Ⅱ）

主题：纳米探针在芯片失效分析中的实战应用

时间：12月12日（星期四）9:00-9:20

地点：上海世博展览馆B2层7号会议室

随着半导体器件和晶体管特性的不断缩小，失效分析识别缺陷变得越来越具有挑战性。较小的器件、高度封装的互连、堆叠的模具和复杂的3D封装为失效分析定位和隔离缺陷并确定故障的根本原因带来了非常大的挑战。传统的故障定位和隔离方法，如光发射显微镜(PEM)和光束诱导电阻变化(OBIRCH)，在定位精确的缺陷区域和失效层方面存在局限性。

纳米探针是一种先进的故障隔离系统，可以精确地定位和表征纳米级别的电气故障。如有兴趣或者任何疑问，期待在展会现场与您进一步交流！

胜科展位，邀您莅临