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直播预告|聚焦量测难点:如何用精准测量驱动产品质量升级
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直播预告|聚焦量测难点:如何用精准测量驱动产品质量升级

  • 分类:胜科新闻
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2025-06-23
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【概要描述】2025年6月24日,胜科纳米专家团队华佑南博士及技术团队受邀参与本次网络研讨会,提供学术报告并在线解答听众的问题,诚邀各位同行和新老客户报名交流。

直播预告|聚焦量测难点:如何用精准测量驱动产品质量升级

【概要描述】2025年6月24日,胜科纳米专家团队华佑南博士及技术团队受邀参与本次网络研讨会,提供学术报告并在线解答听众的问题,诚邀各位同行和新老客户报名交流。

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如今,半导体产业已步入 “后摩尔时代”。一方面,传统硅基半导体发展受阻,晶体管尺寸缩小遭遇量子效应、散热难题,成本也大幅增加。另一方面,新兴技术带来曙光,3nm GAA 晶体管提升芯片性能,HBM 加速数据传输,SiC 功率器件在新能源汽车领域广泛应用,先进封装技术实现芯片高效互联。

 

在此背景下,量测检测技术急需变革。原子级精度控制成为必然,AI 助力海量检测数据处理,设备厂商与产业链上下游协同创新,构建开放生态。2025年6月24日,本次会议将聚焦“智能算法赋能”、“跨尺度量测技术”、“新兴场景应用”三大维度,探讨如何以技术创新应对AI、电镜、原子层沉积(ALD)、原子层刻蚀(ALE)及先进封装带来的检测难题,助力全球半导体产业的高质量发展。胜科纳米专家团队华佑南博士及技术团队受邀参与本次网络研讨会,提供学术报告并在线解答听众的问题,诚邀各位同行和新老客户报名交流。

 

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