
- 首页
-
测试服务
开封Decap 去层Delayer X-Ray高分辨率显微镜 SAT/C-SAM TDR时域反射仪 Thermal增强型热成像 FIB 双束聚焦离子束 PFIB 等离子聚焦离子束 EMMI微光显微镜 激光故障定位法OBIRCH Nano Probe EBIC/EBAC SEM上机观察 TEM透射电子显微镜 EDX能量色散X射线光谱仪 AFM原力电子显微镜 芯片线路修改/FIB CKT 线路修补 (低阶)、(高阶) TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪 D-SIMS磁质谱仪 AES俄歇电子能谱 X射线光电子能谱(XPS) FTIR傅里叶变换红外光谱仪 AFM原子力显微镜 静电ESD 打线WireBond SRP扩展电阻测试 TC温度循环实验 TS温度冲击试验 HTOL高温寿命试验 HAST高加速寿命测试 植球 其他
- 解决方案
- 胜科新闻
- 关于胜科
- 联系我们
- 首页
-
测试服务
开封Decap 去层Delayer X-Ray高分辨率显微镜 SAT/C-SAM TDR时域反射仪 Thermal增强型热成像 FIB 双束聚焦离子束 PFIB 等离子聚焦离子束 EMMI微光显微镜 激光故障定位法OBIRCH Nano Probe EBIC/EBAC SEM上机观察 TEM透射电子显微镜 EDX能量色散X射线光谱仪 AFM原力电子显微镜 芯片线路修改/FIB CKT 线路修补 (低阶)、(高阶) TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪 D-SIMS磁质谱仪 AES俄歇电子能谱 X射线光电子能谱(XPS) FTIR傅里叶变换红外光谱仪 AFM原子力显微镜 静电ESD 打线WireBond SRP扩展电阻测试 TC温度循环实验 TS温度冲击试验 HTOL高温寿命试验 HAST高加速寿命测试 植球 其他
- 解决方案
- 胜科新闻
- 关于胜科
- 联系我们

© 2022 胜科纳米(苏州)股份有限公司. 苏ICP备18002875号