我眼中的新加坡成功之道

我眼中的新加坡成功之道

banner

banner

国际化合作

胜科纳米

国际化合作

一站式分析服务

ONE STOP SOLUTION LIST

• 材料分析主要分类

• 领先分析设备

• 全面材料表征手段

• 常见失效模式

• 一站式失效分析能力

• 一站式分析制样能力

• 产量工程保障

• 品质分析与跟踪

• 创新辅助研发

• 完整测试项目

• 车规可靠性测试

• CPU可靠性测试要求

胜科新闻

WINTECH NANO-TECHNOLOGY NEWS

李晓旻董事长署名文章，荣登《SSIA Voice》二十周年特刊

李晓旻董事长署名文章，荣登《SSIA Voice》二十周年特刊

 近日，新加坡半导体工业协会（SSIA）2025年度会员大会在新加坡乌节希尔顿酒店隆重举行。本次大会恰逢SSIA成立20周年，会议现场高朋满座，来自新加坡半导体业的各界同仁齐聚一堂，共同回顾协会二十年来的发展成就，展望行业未来。
→
ICCAD 2025｜“芯”聚蓉城，胜科纳米解析3D封装失效难题

ICCAD 2025｜“芯”聚蓉城，胜科纳米解析3D封装失效难题

11月20-21日，“2025集成电路发展论坛（成渝）暨第三十一届集成电路设计业展览会”（ICCAD-Expo 2025）在成都西博城圆满落幕。
→
胜科纳米与浙江大学签署科研合作！共同探索AI驱动半导体材料研发新路径

胜科纳米与浙江大学签署科研合作！共同探索AI驱动半导体材料研发新路径

1月18日，胜科纳米与浙江大学成功签署科研合作协议，共同启动“多维度理论计算赋能半导体产业新发展”项目，双方将围绕“基于AI技术构建面向新型半导体材料工艺研发的智算设计系统”展开深度合作。
→
胜科纳米

  © 2022 胜科纳米（苏州）股份有限公司.  苏ICP备2022041864号