胜科纳米Nano Probe技术亮相慕尼黑展，为芯片失效分析“精准把脉”

分类：胜科新闻
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发布时间：2025-04-21
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【概要描述】4月15日-17日，慕尼黑上海电子展在上海新国际博览中心盛大开幕，胜科纳米亮相展会（N5馆663展位）。作为国内领先的第三方半导体检测分析企业，胜科纳米已经连续多年亮相该展会。

展位现场，来自全球半导体产业链的技术专家与胜科纳米团队就先进制程芯片的检测分析展开深度交流，依托胜科纳米成熟的检测技术方案，强大的硬件实力以及优秀的服务态度，展台吸引了众多参展商和观众的目光，其中，胜科纳米自主研发的纳米探针技术，获得了业内的重点关注与积极反馈。

胜科纳米Nano Probe技术亮相慕尼黑展，为芯片失效分析“精准把脉”

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4月15日-17日，慕尼黑上海电子展在上海新国际博览中心盛大开幕，胜科纳米亮相展会（N5馆663展位）。作为国内领先的第三方半导体检测分析企业，胜科纳米已经连续多年亮相该展会。

展位现场，来自全球半导体产业链的技术专家与胜科纳米团队就先进制程芯片的检测分析展开深度交流，依托胜科纳米成熟的检测技术方案，强大的硬件实力以及优秀的服务态度，展台吸引了众多参展商和观众的目光，其中，胜科纳米自主研发的纳米探针技术，获得了业内的重点关注与积极反馈。

展会现场

4月16日，胜科纳米技术专家在2025第三代半导体技术与产业链创新发展论坛上，发表了题为《纳米探针在芯片失效分析中的实战应用》的报告。报告聚焦于半导体芯片失效分析的现状与挑战，并通过案例形象地展示了纳米探针技术在该领域的独特价值和应用前景。

胜科纳米技术专家论坛分享

胜科纳米技术专家报告："随着芯片制程精度的不断跃迁，传统分析方法如光发射显微镜（PEM）和光束诱导电阻变化（OBIRCH）已面临显著局限。纳米探针技术作为高精度故障诊断系统，能够提供探测单个晶体管和互连结构的能力，实现纳米级电性故障的精确定位与表征。目前，该技术可以轻松应对复杂多层封装结构的失效点定位、先进制程芯片的微小缺陷检测以及高性能计算芯片的电路布局优化等多方面，为芯片良率提升提供了关键有效的技术支撑。"