获选北京集成电路学会监事会成员，胜科纳米多维亮相IC WORLD 2025

分类：胜科新闻
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发布时间：2025-10-09
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【概要描述】2025年9月24日至26日，以“聚势芯突破，智领新纪元”为主题的2025北京微电子国际研讨会暨IC WORLD大会在北京经济技术开发区（北京亦庄）成功举办。本届大会由中关村芯链集成电路制造产业联盟、北京半导体行业协会、北京集成电路学会等多家行业权威机构联合主办，吸引超4000名现场观众及近8万人在线参与，盛况空前。

获选北京集成电路学会监事会成员，胜科纳米多维亮相IC WORLD 2025

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2025年9月24日至26日，以“聚势芯突破，智领新纪元”为主题的2025北京微电子国际研讨会暨IC WORLD大会在北京经济技术开发区（北京亦庄）成功举办。本届大会由中关村芯链集成电路制造产业联盟、北京半导体行业协会、北京集成电路学会等多家行业权威机构联合主办，吸引超4000名现场观众及近8万人在线参与，盛况空前。

作为半导体第三方分析检测领域的知名企业，胜科纳米（苏州）股份有限公司及其全资子公司——胜科纳米科技（北京）有限公司在本届大会上多维亮相，彰显企业综合实力。

多家著名集成电路企业领导人到访胜科纳米展台

展会期间，胜科纳米展台备受关注。开幕当天，多家著名集成电路企业领导人到访胜科纳米展台，关注胜科纳米近期发展。次日，北京集成电路学会秘书长陈小男及北京集成电路重大项目办公室副主任王丽君莅临胜科纳米展位指导，围绕胜科纳米首创的“Labless”商业模式进行了深入交流，并给予了高度赞赏。

北京集成电路学会秘书长陈小男及北京集成电路重大项目办公室副主任王丽君莅临胜科纳米展位指导

在专题论坛四：集成电路制造装备、零部件、材料协同发展论坛中，胜科纳米技术专家发表了题为《TOF-SIMS在半导体材料及失效分析中的应用》的技术分享。专家结合三个典型实际案例，深入解析了TOF-SIMS技术在工艺污染溯源、材料界面表征等复杂场景中的关键应用。内容紧扣产业实践，逻辑清晰，引发在场专家的热烈讨论与提问，进一步彰显了胜科纳米在失效分析领域的技术深度与解决方案能力。

胜科纳米技术专家分享

值得一提的是，在IC World 2025召开期间，北京集成电路学会第一届第三次会员大会同期召开。经大会审议通过，胜科纳米科技（北京）有限公司凭借其在半导体分析测试领域的专业能力，成功增补为学会监事会成员及会员代表，成为学会唯一一家入选会员代表及理/监事单位的半导体第三方检测机构。这一身份是业界对公司技术实力与行业贡献的充分肯定，胜科纳米将切实履行监事职责，充分发挥自身在分析测试领域的技术积累，为行业可持续发展提供专业支撑。