硬核实力！胜科纳米解锁 AI/GPU 芯片高功率老化测试新高度

【概要描述】胜科纳米深耕半导体检测分析领域，引入了1500W水冷动态老化测试等系统，凭借核心技术突破打造专属 AI/GPU 芯片的高功率老化测试能力，全流程契合 JESD22-A108 标准要求。

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胜科纳米

AI/GPU芯片高功率老化测试

在半导体产业向高性能、高算力全速进阶的当下，AI/GPU 芯片作为算力核心载体，其可靠性直接决定终端产品的使用寿命与运行稳定性，而半导体可靠性老化测试正是芯片量产前的关键验证环节，更是保障芯片全生命周期性能的核心防线。

胜科纳米 AI/GPU 芯片高功率老化测试

AI/GPU 芯片因高算力架构设计，存在功率密度大、热损耗高的特性，对老化测试的高功率承载、精准温控能力提出严苛挑战。

胜科纳米深耕半导体检测分析领域，引入了1500W水冷动态老化测试等系统，凭借核心技术突破打造专属 AI/GPU 芯片的高功率老化测试能力，全流程契合 JESD22-A108 标准要求。

高功率动态老化系统的落地，让胜科纳米在分析测试中实现了单颗芯片功耗1500W的高功率信号稳定加载，高效模拟 AI/GPU 芯片实际工作中的复杂工况，全面捕捉高功率运行下的潜在可靠性风险。

从芯片设计验证HTOL到量产Burn-in，胜科纳米的高功率老化测试能力，为 AI/GPU 芯片从实验室走向市场筑牢可靠性屏障，助力高端算力芯片实现更稳定、更长效的算力输出。

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