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直播预告 | WTSI 智.识：硅FinFET技术及其未来的静电放电（ESD）保护：现状与挑战
- 分类：胜科新闻
- 作者：
- 来源：
- 发布时间：2024-11-04
- 访问量：0
【概要描述】观“芯”河之璀璨，听智慧之涛声，绘未来之蓝图。
胜科纳米半导体学院开设「WTSI 智.识」系列讲座，本期（9月30日）特邀中国北方民族大学电气与信息工程学院讲座教授 、中国教育部长江学者特聘教授 、IEEE会士、IET会士、AAIA会士刘俊杰（Juin J. Liou）教授为我们分享ESD对电子元件的影响及在半导体设计中的关键防护策略。
直播预告 | WTSI 智.识：硅FinFET技术及其未来的静电放电（ESD）保护：现状与挑战
【概要描述】观“芯”河之璀璨，听智慧之涛声，绘未来之蓝图。
胜科纳米半导体学院开设「WTSI 智.识」系列讲座，本期（9月30日）特邀中国北方民族大学电气与信息工程学院讲座教授 、中国教育部长江学者特聘教授 、IEEE会士、IET会士、AAIA会士刘俊杰（Juin J. Liou）教授为我们分享ESD对电子元件的影响及在半导体设计中的关键防护策略。
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观“芯”河之璀璨，听智慧之涛声，绘未来之蓝图。
胜科纳米半导体学院开设「WTSI 智.识」系列讲座，本期（9月30日）特邀中国北方民族大学电气与信息工程学院讲座教授 、中国教育部长江学者特聘教授 、IEEE会士、IET会士、AAIA会士刘俊杰（Juin J. Liou）教授为我们分享ESD对电子元件的影响及在半导体设计中的关键防护策略。
同时，我们也邀请到新加坡科技设计大学副校长、新加坡工程院院士、新加坡科学院院士、AAIA会士、IEEE会士杨杰圣教授同席莅临，共同探讨前沿动态，分享深刻洞见。
欢迎报名观看！
讲座主题
硅FinFET技术及其未来的静电放电（ESD）保护：现状与挑战
讲座时间：9月30日14:00-16:00
参与形式：
胜科纳米 新加坡（线下）
胜科纳米 苏州（同步连线直播）
讲座内容：
•解读ESD的来源、模型保护方案和测试
•探讨硅FinFET工艺中的ESD保护设计
•剖析新兴硅纳米线技术中的ESD保护解决方案
扫描下方二维码，即可参与报名
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0512-62800006
sales-cn@wintech-nano.com
