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直播预告 | WTSI 智.识:硅FinFET技术及其未来的静电放电(ESD)保护:现状与挑战
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直播预告 | WTSI 智.识:硅FinFET技术及其未来的静电放电(ESD)保护:现状与挑战

  • 分类:胜科新闻
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2024-11-04
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【概要描述】观“芯”河之璀璨,听智慧之涛声,绘未来之蓝图。
胜科纳米半导体学院开设「WTSI 智.识」系列讲座,本期(9月30日)特邀中国北方民族大学电气与信息工程学院讲座教授  、中国教育部长江学者特聘教授  、IEEE会士、IET会士、AAIA会士刘俊杰(Juin J. Liou)教授为我们分享ESD对电子元件的影响及在半导体设计中的关键防护策略。

直播预告 | WTSI 智.识:硅FinFET技术及其未来的静电放电(ESD)保护:现状与挑战

【概要描述】观“芯”河之璀璨,听智慧之涛声,绘未来之蓝图。
胜科纳米半导体学院开设「WTSI 智.识」系列讲座,本期(9月30日)特邀中国北方民族大学电气与信息工程学院讲座教授  、中国教育部长江学者特聘教授  、IEEE会士、IET会士、AAIA会士刘俊杰(Juin J. Liou)教授为我们分享ESD对电子元件的影响及在半导体设计中的关键防护策略。

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  • 发布时间:2024-11-04
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观“芯”河之璀璨,听智慧之涛声,绘未来之蓝图。

 

 科纳米半导体学院开设「WTSI 智.识」系列讲座,本期(9月30日)特邀中国北方民族大学电气与信息工程学院讲座教授  、中国教育部长江学者特聘教授  、IEEE会士、IET会士、AAIA会士刘俊杰(Juin J. Liou)教授为我们分享ESD对电子元件的影响及在半导体设计中的关键防护策略。

 

同时,我们也邀请到新加坡科技设计大学副校长、新加坡工程院院士、新加坡科学院院士、AAIA会士、IEEE会士杨杰圣教授同席莅临,共同探讨前沿动态,分享深刻洞见。

 

欢迎报名观看!

 

 

 

讲座主题

 

硅FinFET技术及其未来的静电放电(ESD)保护:现状与挑战

 

讲座时间:9月30日14:00-16:00

 

参与形式:

胜科纳米 新加坡(线下)

胜科纳米 苏州(同步连线直播)

 

讲座内容:

•解读ESD的来源、模型保护方案和测试

•探讨硅FinFET工艺中的ESD保护设计

•剖析新兴硅纳米线技术中的ESD保护解决方案

 

扫描下方二维码,即可参与报名

 

2024.9.30|14:00-16:00
「WTSI 智.识」系列讲座,等你参与!

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