直播预告 | WTSI 智.识：硅FinFET技术及其未来的静电放电（ESD）保护：现状与挑战

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发布时间：2024-11-04
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【概要描述】观“芯”河之璀璨，听智慧之涛声，绘未来之蓝图。
胜科纳米半导体学院开设「WTSI 智.识」系列讲座，本期（9月30日）特邀中国北方民族大学电气与信息工程学院讲座教授、中国教育部长江学者特聘教授、IEEE会士、IET会士、AAIA会士刘俊杰（Juin J. Liou）教授为我们分享ESD对电子元件的影响及在半导体设计中的关键防护策略。

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观“芯”河之璀璨，听智慧之涛声，绘未来之蓝图。

胜科纳米半导体学院开设「WTSI 智.识」系列讲座，本期（9月30日）特邀中国北方民族大学电气与信息工程学院讲座教授、中国教育部长江学者特聘教授、IEEE会士、IET会士、AAIA会士刘俊杰（Juin J. Liou）教授为我们分享ESD对电子元件的影响及在半导体设计中的关键防护策略。

同时，我们也邀请到新加坡科技设计大学副校长、新加坡工程院院士、新加坡科学院院士、AAIA会士、IEEE会士杨杰圣教授同席莅临，共同探讨前沿动态，分享深刻洞见。

欢迎报名观看！

讲座主题

硅FinFET技术及其未来的静电放电（ESD）保护：现状与挑战

讲座时间：9月30日14:00-16:00

参与形式：

胜科纳米新加坡（线下）

胜科纳米苏州（同步连线直播）

讲座内容：

•解读ESD的来源、模型保护方案和测试

•探讨硅FinFET工艺中的ESD保护设计

•剖析新兴硅纳米线技术中的ESD保护解决方案

扫描下方二维码，即可参与报名

▼

2024.9.30｜14:00-16:00

「WTSI 智.识」系列讲座，等你参与！

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