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WTSI 智.识 | 解码芯片之盾：硅FinFET技术及ESD保护专题讲座
- 分类：胜科新闻
- 作者：
- 来源：
- 发布时间：2024-11-04
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【概要描述】人才的培养和技术的更新是推动行业发展的双轮驱动。胜科纳米半导体学院近期推出「WTSI 智.识」系列讲座，汇聚工业界、学术界众多的专家学者，旨在输出尖端技术知识的同时，进一步培养行业专才的批判性思维、创新能力和解决问题的能力。
WTSI 智.识 | 解码芯片之盾：硅FinFET技术及ESD保护专题讲座
【概要描述】人才的培养和技术的更新是推动行业发展的双轮驱动。胜科纳米半导体学院近期推出「WTSI 智.识」系列讲座，汇聚工业界、学术界众多的专家学者，旨在输出尖端技术知识的同时，进一步培养行业专才的批判性思维、创新能力和解决问题的能力。
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信息时代的洪流中，智慧火花点燃创新的激情；
科技革命的征途中，知识灯塔照亮探索的航道。
人才的培养和技术的更新是推动行业发展的双轮驱动。胜科纳米半导体学院近期推出「WTSI 智.识」系列讲座，汇聚工业界、学术界众多的专家学者，旨在输出尖端技术知识的同时，进一步培养行业专才的批判性思维、创新能力和解决问题的能力。
本期讲座于9月30日下午通过线上、线下（新加坡）同步连线直播的方式成功举行，特邀北方民族大学讲座教授、IEEE会士、IET会士、AAIA会士刘俊杰（Juin J. Liou）教授作题为《硅FinFET技术及其未来的静电放电（ESD）保护：现状与挑战》的专题分享。新加坡科技设计大学副校长、新加坡两院院士、IEEE会士、AAIA会士杨杰圣（Yeo Kiat Seng）教授同席莅临。胜科纳米（苏州）股份有限公司副总经理张兮博士担任此次讲座的嘉宾主持，与此同时，中新两地知名的芯片设计公司、FAB、终端领域的研究人员，学者、高校学生等近七百人通过实名制预约，参与观看讲座。数小时的学术研讨，线上线下联动活跃，呈现了一场精彩纷呈的行业饕餮盛宴。
刘俊杰教授在半导体领域拥有深厚的学术造诣和近四十年的实践经验，作为国内集成电路可靠性和静电防护技术领域的拓荒者，先后在中国三所一流大学开创了集成电路静电防护学科和静电防护（ESD）实验室，担任多个重大科技项目的负责人，为中国在ESD领域的学科教育、科研成果、技术开发与产学合作作出重大和突破性的贡献。
刘教授详细解读ESD的来源、模型保护方案和测试，重点剖析硅FinFET技术的最新进展、面临的挑战以及未来发展方向，特别是针对静电放电（ESD）保护在硅FinFET中的应用与创新进行了详尽的分析。
刘教授指出，芯片在制造、封装、运输、应用中都可能产生静电电荷或与带静电电荷的机器接触，发生静电释放，产生瞬时高压、大电流，使得芯片失效。随着集成电路所采用工艺节点越来越小，由IC正常工作电压、IC击穿电压、热失效三方面所限制的ESD设计窗口也变得越来越小，ESD保护设计更具挑战性。面对日益复杂的静电威胁和不断提升的芯片性能要求，刘教授表示仍需要不断创新，探索更加高效、智能的保护方案。
值得一提的是，本次讲座不仅局限于理论探讨，还注重实践应用。在双语问答交流环节，众多参与者积极提问。张兮博士作为嘉宾主持人，结合其近三十年的丰富经验，针对线上观众在实际应用中遇到的问题与刘教授就“如何通过ESD的设计来解决不同Chiplets科技的防护问题？在常见的失效分析中，如何区分ESD与EOS这两种失效分析？以及在ESD（静电放电）保护方面，哪一种封装模式对ESD影响的程度更小……”等议题充分探讨。跨越时空阻隔，共享学术之美。通过与业界专家的深层次、多维度交流，不仅增进了参与者对ESD保护的理解，也为他们在日后的学习和工作中提供了更广阔的学术视角和更丰富的实践经验。
| 智启未来，识铸“芯”途 |
我们坚信并期待，「WTSI 智.识」系列讲座不仅仅能为大家带来高质量的学术前沿信息，更是创造深度的思想交流和火花碰撞的舞台。
我们鼓励并倡导，尝试全新的学习和技术创新理念，在关注事实和数据的同时，也能洞察到背后的原理和应用场景，进一步培养创新思维和解决实际问题的智慧。
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