测试服务
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高分辨率显微镜X-Ray
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等离子聚焦离子束PFIB
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原力电子显微镜AFM
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飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
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磁质谱仪D-SIMS
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俄歇电子能谱AES
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X射线光电子能谱（XPS）
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傅里叶变换红外光谱仪FTIR
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原子力显微镜AFM
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静电ESD
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打线WireBond
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扩展电阻测试SRP
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温度循环实验TC
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温度冲击试验TS
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高温寿命试验HTOL
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高加速寿命测试HAST
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器件DPA
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植球Balling
EBIC/EBAC
- 分类：测试服务
- 发布时间：2022-05-18 16:14:06
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概要:
详情
1、项目定义：
NanoProbe集成EBAC/EBIC/EBIRCH等多功能失效分析能力，可实现芯片线路开路/短路定位；晶体管pn节成像/漏电定位。
2、应用优势：
特别适合新产品的开发与失效分析，用于提高良率，解决质量和可靠性问题、客诉。
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0512-62800006
sales-cn@wintech-nano.com
