
测试服务
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植球
EBIC/EBAC
- 分类:测试服务
- 发布时间:2022-05-18 16:14:06
- 访问量:0
概要:
详情
1、项目定义:
NanoProbe集成EBAC/EBIC/EBIRCH等多功能失效分析能力,可实现芯片线路开路/短路定位;晶体管pn节成像/漏电定位。
2、应用优势:
特别适合新产品的开发与失效分析,用于提高良率,解决质量和可靠性问题、客诉。
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