测试服务
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器件DPA
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植球
EBIC/EBAC
- 分类：测试服务
- 发布时间：2022-05-18 16:14:06
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概要:
详情
1、项目定义：
NanoProbe集成EBAC/EBIC/EBIRCH等多功能失效分析能力，可实现芯片线路开路/短路定位；晶体管pn节成像/漏电定位。
2、应用优势：
特别适合新产品的开发与失效分析，用于提高良率，解决质量和可靠性问题、客诉。
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0512-62800006
sales-cn@wintech-nano.com