测试服务
全部分类
-
开封Decap
-
去层Delayer
-
高分辨率显微镜X-Ray
-
时域反射仪TDR
-
增强型热成像Thermal
-
双束聚焦离子束FIB
-
等离子聚焦离子束PFIB
-
微光显微镜EMMI
-
激光故障定位法OBIRCH
-
纳米探针Nano Probe
-
EBIC/EBAC
-
上机观察SEM
-
透射电子显微镜TEM
-
能量色散X射线光谱仪EDX
-
原力电子显微镜AFM
-
芯片线路修改/FIB CKT 线路修补 (低阶)、(高阶)
-
飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
-
磁质谱仪D-SIMS
-
俄歇电子能谱AES
-
X射线光电子能谱(XPS)
-
傅里叶变换红外光谱仪FTIR
-
原子力显微镜AFM
-
静电ESD
-
打线WireBond
-
扩展电阻测试SRP
-
温度循环实验TC
-
温度冲击试验TS
-
高温寿命试验HTOL
-
高加速寿命测试HAST
-
器件DPA
-
植球Balling
原子力显微镜AFM
- 分类:测试服务
- 发布时间:2022-05-18 17:00:22
- 访问量:0
概要:
详情
1、项目介绍 Introduction:
原子力显微镜(AFM)是一种具有极好的垂直分辨率 (亚纳米)的扫描探针显微镜。 它是研究表面拓扑和 表面粗糙度值的强大工具。 通过隧道式AFM(TUNA) 和纳米压痕的应用模块,可以测量电气和机械性能。
2、分析指标Specifications
垂直分辨率0.1nm
最佳横向分辨率7nm
最大扫描面积80um x 80um
TUNA 10pA - 10uA的电流范围
力范围在Nanoindentation 1-100uN
3、应用案例
(1)表面形貌和表面粗糙度
(2)纳米压痕Nanoindentation
压痕是确定样品的机械性能,如硬度或模量的常用工具。 借助于AFM系统上的金刚石探头,它可以纳入极小体积的样品,以获得有价值的数据。 AFM还可以进行纳米划痕和磨损试验,以研究膜的粘附性和耐久性。
(3)导电原子力显微镜 C-AFM
通过样品卡盘向样品施加一定电压。当AFM尖端接地时, 如果导体有流过样品的电流。 电流映射可以与形貌一起获得。
扫二维码用手机看