嘉宾介绍 | 葛广路

分类：胜科新闻
作者：胜科纳米
来源：
发布时间：2023-02-13
访问量：0

【概要描述】“第五届纳博会分析测试应用论坛”以国际领先甚至独一无二的分析仪器为基础，依托科研人员独创性的分析方法与对仪器、产品、材料及工艺的深刻理解，为工业界解决实际生产过程中迫在眉睫或悬而未决的问题，进行技术和案例的分享与研讨。

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嘉宾介绍 | 葛广路

分类：胜科新闻
作者：胜科纳米
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发布时间：2023-02-13
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半导体和新材料方面的检测处于检测分析行业金字塔的最顶端。针对国内半导体与新材料分析检测领域的现状与需求，胜科纳米（苏州）股份有限公司联合中国半导体行业协会MEMS分会、苏州纳米科技发展有限公司，于2018年第九届纳博会开始，同期举办“第一届纳博会分析测试应用研讨会”,截止目前已成功举办四届。“ 纳博会分析测试应用研讨会”得到了ThermoFisher、Bruker、牛津仪器、Leica、日立、Zeiss、Tescan、PHI、EDAX、 YXLON、Picosun等公司的大力支持，每年吸引了500余名纳米新材料与半导体领域的专业人士参会，现场反响热烈。现组委会召集举办“第五届纳博会分析测试应用论坛”，论坛以国际领先甚至独一无二的分析仪器为基础，依托科研人员独创性的分析方法与对仪器、产品、材料及工艺的深刻理解，为工业界解决实际生产过程中迫在眉睫或悬而未决的问题，进行技术和案例的分享与研讨。

嘉宾简介：

葛广路，国家纳米科学中心研究员，中国科学院纳米标准与检测重点实验室主任。2001年美国哥伦比亚大学博士，随后在加州大学洛杉矶分校和加州理工学院从事博士后研究。现任国际标准化组织纳米技术委员会纳米材料工作组（ISO/TC229/WG4）召集人，全国纳米技术标准化技术委员会（SAC/TC279）副主任委员，全国标准样品技术委员会（SAC/TC118）副主任委员，中国计量测试学会理事。

主要从事纳米测试标准方法和标准样品、纳米尺度界面表征与构效关系研究，主持国家重点研发计划纳米科技重点专项十三五项目“纳米产业技术标准的共性关键科学问题研究（2016YFA0200900）和十四五项目“重要纳米技术应用中关键性能的计量标准研究（2021YFA1202800）”，在Advanced Materials、Small等发表SCI论文80余篇，2013年由科学出版社出版译著《纳米技术标准》，2018年获国际电工委员会IEC 1906奖。

主持和联合主持7项ISO/IEC国际标准和16项国家标准，与国内优势企业合作，在锂电材料理化测试和量子点光学表征领域形成了国际标准、国家标准、标准样品的体系，推动了我国纳米材料的上下游对接和国际认可。

演讲题目: 纳米材料测试标准

演讲摘要：测试标准保证纳米材料测试数据的可靠一致，是纳米产业的重要支撑。ISO、IEC、ASTM等国际标准组织的纳米技术委员会积极开展检测标准制定，针对碳纳米管、量子点、金属纳米粒子等材料体系，围绕电子显微镜、扫描探针显微镜、光散射、拉曼光谱、单粒子ICP-MS等技术，制定了多项理化特性测试标准，提高了方法可比性和数据准确性，加深了对纳米测量不确定度的认识。

我国自十一五起就以国家重大科学研究计划、重点研发专项等形式支持了纳米检测方法标准化研究。在此基础上，我国主导了碳纳米管金属杂质测定、量子点吸收光谱表征等30余项ISO/IEC国际标准，研制50余项标准物质和样品，提升了该领域的水平和国内企业参与国际标准的能力。

本报告分析纳米检测技术标准化的挑战，总结国内外动态，并展望该领域发展趋势。

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