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胜科纳米分析中心 | NanoProbe介绍
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胜科纳米分析中心 | NanoProbe介绍

  • 分类：技术介绍
  • 作者：胜科纳米
  • 来源：
  • 发布时间：2023-04-13
  • 访问量：0

【概要描述】通过在SEM设备里使用并控制纳米尺寸探针，提取单个晶体管的电性参数，集成EBAC/EBIC/EBIRCH等多功能失效分析能力，适用于新产品开发和失效分析，用于提高良率，质量和可靠性问题、客诉。

胜科纳米分析中心 | NanoProbe介绍

【概要描述】通过在SEM设备里使用并控制纳米尺寸探针，提取单个晶体管的电性参数，集成EBAC/EBIC/EBIRCH等多功能失效分析能力，适用于新产品开发和失效分析，用于提高良率，质量和可靠性问题、客诉。

  • 分类：技术介绍
  • 作者：胜科纳米
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  • 发布时间：2023-04-13
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