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胜科纳米分析中心 | NanoProbe介绍
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胜科纳米分析中心 | NanoProbe介绍

  • 分类:技术介绍
  • 作者:胜科纳米
  • 来源:
  • 发布时间:2023-04-13
  • 访问量:0

【概要描述】通过在SEM设备里使用并控制纳米尺寸探针,提取单个晶体管的电性参数,集成EBAC/EBIC/EBIRCH等多功能失效分析能力,适用于新产品开发和失效分析,用于提高良率,质量和可靠性问题、客诉。

胜科纳米分析中心 | NanoProbe介绍

【概要描述】通过在SEM设备里使用并控制纳米尺寸探针,提取单个晶体管的电性参数,集成EBAC/EBIC/EBIRCH等多功能失效分析能力,适用于新产品开发和失效分析,用于提高良率,质量和可靠性问题、客诉。

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  • 作者:胜科纳米
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